影響涂層測厚儀精度因素的有關(guān)說明
a） 基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為
了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準片對儀器進行校準；亦
可用待涂覆試件進行校準。
b） 基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件
基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準片對儀器進行校準。
c） 基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器
的臨界厚度值見附表1。
d） 邊緣效應(yīng)
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。
e） 曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面
上測量是不可靠的。
f） 試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上不能測出可靠的數(shù)據(jù)。
g） 表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤
差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗
糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒
有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。
g） 磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。
h） 附著物質(zhì)
本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀
器測頭和被測試件表面直接接觸。
i） 測頭壓力
測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
j） 測頭的取向
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測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。

 12、蘭泰儀器的涂層測厚儀品種多樣，功能齊全，有單次連續(xù)兩種測量模式，方便對曲面及較薄的試件進行測量，并且是在儀表量程內(nèi)校準一點就可以了。zui大量程可達15㎜，有CM-8825、CM-8826、CM-8828、CM-8829、CM-8855、

   CM-8856等選擇。

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